销售热线: 021-55235301 / 021-55228110 55228110@163.com 周一至周五 8:30-17:30 经典仪器维修

利用TEM 电子显微镜来研究薄膜沉积厚度

扫瞄式电子显微镜实作训练

利用TEM来研究薄膜沉积厚度，可印证出沉积层数，分别可了解相同溅镀条件之下薄膜沉积速度及厚度与沉积层数。

TEM图中显示出碳黑与碳黑披覆铂触媒之微观结

构与分佈状态，与不同碳黑与Clay比例所制备之触媒载体，由场发射式扫瞄式电子显微镜

（field-emission scanning electron microscope,FESEM）所拍摄之表面形貌了解不同比例的clay，

所造成碳黑分散程度及分散后的碳黑颗粒大小

产品推荐

JDG-S3液晶数显立式光学计

JDG-S3液晶数显立式光学计

真空冷镶嵌机XQ-3000

现在光学显微镜的放大与分辨

各种仪器的测量方法及仪器的分类

各种仪器的测量方法及仪器的分类

金相显微镜有哪些作用用途

高倍率观察时候为何需换油镜?