光学仪器常识-微米尺寸下的材料结构的影像
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
在 1992 年时由 P. Güthner 和 K. Dransfeld 等人使用原子力显微镜（scanning force microscope）
配合锁相放大器来量测铁电共聚物的铁电区，藉由导电探针当上电极，共聚物薄膜的下方为铝下电极，
施加交流电压于上下电极间，并侦测样品表面的压电响应的局部振盪，先透过施加 DC
电压改变其极化方向，再成功取得在共聚物薄膜中已极化区域的微米尺寸下的铁电区的影像，
此一量测方式与本文所称之压电力显微镜量测方式已非常相近，
此一量测方式与本文所称之压电力显微镜量测方式已非常相近，
唯一不同之处乃在其利用一光学干涉仪侦测探针运动而非现今
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