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光学显微镜通常被使用来观察样品斑点的位置

显微光谱学 IR microscopy 

对于物理尺寸在10至500 mm范围的样品,可以使用IR显微光谱法来观测样品中物种之吸收光谱或者反射光谱。

IR显微镜通常是由两具显微镜所构成的,
其中一具是一般的光学显微镜,
另一具则是具有反射光学部分的IR装置,而能够将IR光束的大小减少到与样品的尺寸相近。

光学显微镜通常被使用来观察,预备以IR光束研究之样品颗粒或者样品斑点的位置。
IR光源通常是一具傅立叶转换光谱仪,而不是光栅型仪器。

侦检器通常是比其他IR侦检器类型更为灵敏的液态氮冷却式碲化汞–碲化镉光导电装置。
在目前,它的一些用途包括有,针对聚合物污染、聚合物薄膜之缺失、与薄层式聚合物薄板之个别层面等各项,
进行辨识工作;针对纤维、涂料、进行辨识工作;对电子组件之污染物进行辨识工作等等