大型发光二极体(LED)显示器之LED显示模组，常因个别LED特性问题造成显示画面有亮度不均匀情形，
形成画面区块状况，使得显示效果大打折扣。本文提出一个亮度侦测器，对LED显示模组内的每一颗LED做亮度测试，
计算出每一区域LED应该补偿之驱动电流，并将该方法以硬体电路实践之，
使达成即时补偿的要求，藉以提高大型LED显示面板发光亮度的均匀性，进而产生令人赏心悦目的显示画面。
以往LED模组亮度检测系统有下列方式：
1. 以CCD摄影机为取像设施，其优点为检测平面资料一次撷取，
但相对的缺失则是影像资料需要高速运算，测试时间长，有实用上的问题；
2. 采用光电晶体阵列取像，优点是亮度资料撷取快速，缺失则是需要精密的机械机构解决定位问题以及导光设施，
才能避免各个LED光源的干扰。
优点如后所述：
1. 采用区域亮度量测法的光电晶体阵列取像避免了精密结构的困扰；
2. 提升检测速度；3. 量测数据换算成补偿数值填入LED模组，使得LED模组发光均匀性提升至90%以上。
