现阶段研究荧光粉荧光于高温环境下之放光特性,主要以热淬熄
( 从低温至高温之放光特性) 为主,该研究除了探讨荧光粉热淬熄现象外,
也研究鲜少文献讨论之热衰竭( 从高温至低温之放光特性) 现象。
利用高解析度穿透式电子显微镜,观察300oC 热处理后之
M2-xSi5N8:Eux 荧光粉的表面形态,其产生非晶化(amorphous) 之表层,
并藉由变温X 光绕射与X 光吸收近边缘结构光谱之结果,提出可能的结构变化机制,
并解释Sr 与Ba 系列样品随Eu 添加量多寡之热淬熄与热衰竭现象。
此研究使用 BL01C2 光束线