电子显微镜技术是研究微细结构的重要手段,在纳米材料表征
上发挥着重要的作用。
常用的电子显微技术包括
扫描电子显微镜(scanning electron microscope, SEM)和透射电子显微镜
(transmission electron microscope, TEM)
SEM的成像原理如下:当电子束在样品表面扫描时会激发出二次电子,
用探测器收染产生的二次电子。则可获得样品表面结构信息。石墨烯的厚度
为原子量级,表面起伏多为纳米最级。另外,石墨烯发射二次电子的能力极低.
因此,在通常情况下,石墨烯在SEM下是很难成像的。但由于石墨烯质软,
在基底上沉积后会形成大量的褶皱。这些招皱在SEM下可被清晰分辨,
从而将石墨烯的轮廓“勾勒”出来。
因此,SEM常被用来表征石墨烯大面积薄膜,效率极高。