磁力显微镜
磁力显微镜(MFM)是继扫描隧道显微镜和扫描力显微镜之后的第三代扫
描探测器,用于研究磁性材料上的边缘场.它的原理是磁性样品与附着在灵敏悬
臂上磁传感器间的相互静磁作用。
在非接触式模式中的扫描范围是几十到几百纳米带有畴结构的磁性样品在表面
产生复杂的分散场。
磁力显微镜的目的是当接近样品表面在尽可能接近样品表面的情况下,
微镜传撼器扫描时出现干涉。磁力显微镜传感器可以通过悬臂的偏转
或水平振动进行监视,并且能测量出共振频率。
磁力显微镜操作的方式使外形和磁力逐行同时获得,并且提供给用户一种研
究表面形态与磁域结构间的相互作用的方法。其效果的控制依靠探针顶端与表面
间的距离,因为原子间的磁力比范德瓦尔斯力更能使探针与样品分离。
如果探针接近表面,在标准非接触式原子力显微镜操作的区域中,图像将会是
主要的外形图。
当探针与样品间的距离增加时,磁力影响变得显而易见.在探针不同的高度
采集一系列图像.是从外形图的结果中分离出磁性的一种方法。
磁力显微镜提供了高灵敏度和50nm或更好一些的横向分辨率。这些功能主要
通过铁磁薄膜式传感器实现。
这些传感器的准备不但用于确定磁力显微镜的分辨率和灵敏度,也提
供了在纳米尺度内研究磁特性的一种方法。