在显微镜下观察组织切片时,可以看到我们感兴趣的某种特征物,
即具有一定形状和分界限的某种组织成分的截面痕迹。这些截面形状
不一,大小不等,通常可用几何学和光密度两大类参数对它们进行定
量描述。
几何学参数主要指截面面积、周长、径长、方位和计数,其中计
数又分点计数和特征物计数两大类。
点计数包括测试点计数、交点计数、横截点计数、切线计数;特
征物计数包括截面计数和相关点计数;
径长包括截距(弦)长度、卡规直径和平均卡规直径等。其二维
形态计量学参数可通过点、线和面3 种探针,特别是通过0 维的“点”
计数获得。