用于测量比较的显微物镜的特点,倍数低、孔径小
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
用于测量比较的显微物镜的特点,倍数低、孔径小
显微系统的象差要求及结构形式
对单纯用于瞄准的显微系统，只要将视场中心的刻划线去对准物
体，这时仅用到视场的中心部分，其边缘部分只起陪衬作用，对这种
显微镜只消轴上点象差（球差、色差及近轴点彗差）就可以了。
轴外象差及放大率误差可不必特别注意。但若要在分划板上进行
瞄准读数或比较测量，这时除了要消轴上点象差外还要注意轴外点象
差和放大率误差。其中畸变会使视场边缘部分的放大率与中心部分不
同，对测量精度的影响是直接的，
因此应使残留的畸变值减小到不影响测量精度为止。至于其它的
轴外象差，只是使象模糊而降低对准的可靠性，还找不出它们之间的
真镜关系，可从同类型镜头的类比中确定相应的依据。放大率误差主
要来源于不正确调焦或分划板偏离设计位置，采用远心光路可减小这
一误差。‘用于测量比较的显微物镜的特点是：倍数低、孔径不大而
视场较大、远心光路，有时要求工作距较长，但象质要求较高。
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