TEM的图像衬度-直接测量晶体材料的晶面间距
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
TEM的图像衬度-直接测量晶体材料的晶面间距
TEM的图像衬度来自于三种机制.它们对成像都起到了作用:质录/厚度、
衍射和相位。在明场成像中.物镜孔径对准光轴中央，其大小决定了形成图像的
散射电子的数量。较厚或密度较高的区域产生更多的散射电子.致使图像更暗。
如果样品是晶体，那么电子可能发生衍射，图像衬度将取决于品体取向，较强衍
射区形成的图像较暗。当令不同相位的电子通过物镜孔径并对成像发挥作用时.
将产生相位衬度。由于大部分散射事件都会导致相位的改变，而又不可能选择足
够小的物镜孔径排除所有散射电子，因此大多数TEM图像都存在一些相位衬
度.如果散射电子束通过物镜孔径并发生干涉，则能够获得样品的晶格图像。从
晶格图像可以直接测量晶体材料的晶面间距。
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