样品分析用电子显微镜-镀膜显微结构分析
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
样品分析用电子显微镜-镀膜显微结构分析
尽管传统SEM和TEM己经是相当成熟的技术，但在电镜设计和技术方面
的革新仍在继续.当前，生物和纳米技术专家对EM的不同需求促进了电镜的
发展。不过，当可用来对软物质和小颗粒成像的技术范幽增大时，从事胶体研究
的科学工作者肯定从这些进展中获益匪浅。
为EM分析制备含水样品的传统方法是冷冻干燥和临界点干燥。尽管这些方法降低
了在空气中晾干湿样品时表面张力效应引起的结构损伤，但两种方法都有其局限
性。
例如，在临界点干燥前使样品脱水所必需的溶剂交换环节(和为了切片进行的材料
包埋)，将可能导致结构塌陷或某种组分的溶解。低温SEM技术能够将样品处理过程
中形成假象或者结构损伤的可能降到最低。像低温TEM一样，第一步先将样品迅速
冷冻，接着转移样品到低温样品室，溅射镀膜、拍摄图像。
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