覆层厚度的测量图像分析显微镜制造厂商
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
覆层厚度的测量，特别是覆层厚度的无损测量，通常是依据
.各种物理方法制作的传感器，将粗层厚度这一参量变为电信号，
‘以实现覆层厚度的测量.
对于传感器及其实现测量的机械结构，在无损探伤中，通常
称作探头，在医学检查和物理量的测试中，较多地称作探针，而
在覆层厚度测量中，则称作测头.
根据测头和被测工件表面是否接触，可将覆层厚度测量分为
接触测量和不接触测量.
接触测量是测头和被测工件表而直接接触的测量，并有机械
作用力存在，通常制成品和半成品的覆层厚度测量大多采用接触
测量
本文由出自上海光学仪器厂，转载请注明