测量样品（光片）数镜下测量-磨片定量分析显微镜
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
（1）提高样品的代表性分选前，矿石总是要被破碎的
，而每一次破碎、缩分有过程，就是一次很好的混样过程
。因此，与其取矿来磨片定量，不如按缩分的规定取混匀
的破碎样来磨片定量，这种样品的代表性无疑已经提高了
，对难破碎矿石，破碎到-3mm时取样；对易破碎矿石，破
碎到-10mm取样。
（2）增加测量样品（光片）数镜下测量，大多数建立
在统计学的基础上，因此增加测量样品（光片）数，即增
加测量数，一定会降低测量误差。但增加测量样品数，又
地增加工作量，因此，测量样品（光片）数的确定，要恰
当。一般是将测量破碎样品制成光片后，首先进行普查目
测，左路矿物在光面上分布的比较均匀，且矿物含量大于
3%时，选取5-10块光片测量即可保证精度；若矿物含量较
低，且分布又不均匀，则应酌情增加光片的数量。
如果直接采用圹块样品制片，应先从矿石中随意选出数
量较大的一批初选样品，经目测按矿石类型和矿石含量的
多少分为若干类，然后按数量比较抽取较少的复选样品磨
制成光片。最后在这些光片中按代表性、按比例再复选出
几块光片供测量用。
当然，提高测量者的业务素质也是提高分析精度的一个
方面，这是对所以测定工作而言的。
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