把选区衍射花样提供的结晶学和位向的信息同电子显微照片
的几何关系联系起来时,就能够推断出关于界面,沉淀物,堆垛层
错,位错线等形貌的广泛的结晶学特性.这意味着可以确定这些
形貌的惯习而和结晶学方向.这类分析一般叫做痕迹分析.
这种技术的一般途径要求确定品面和晶向之间的角度,并且
确定它们与由电子衍射花样给出的倒易点阵之间的取向关系.计
算出重要的角度,并在显微照片的正片上直接画出重要的方向,就
能够直截了当地解决大量的问题.然而,这方法可能变得很繁琐,
而使用图形投影法常常是很方便的,最常使用的方法是极射投影
法.因为这些技术是十分标准的,