解决子矿物的鉴定的简捷各种类型的电镜技术
近年来,人们采用了各种类型的电镜技术来研究包裹
体,但仍需寻找一种解决子矿物的鉴定的简捷办法,对于
研究通常出露在炎成岩矿物光片上的玻璃或包裹体在玻璃
内的子矿物,电子显微探针分析是令人满意的,但这种技
术对于稀散分布在富气液包裹体中的矿物却不适用。对于
这样的包裹体,子晶往往在抛光时被破坏和(或)溶蚀,
而且打开了的包裹体通常被磨料和矿物矿碎屑所污染。
使用所含具有分析意义的元素非常低的研磨剂,他们
对局部暴露在磨光的主晶表面的子矿物成功地进行了电子
探针分析,采用电子显微探针分析和电子衍射方法分析机
械打开包裹体所释放的流体所形成的沉淀物也取得了某些
成功,在某种情况下,电子显微探针分析方法可与透射电
子
显微镜分析联用通过复型法鉴定从包裹体中选取的子矿
物。