电镜显微结构
电子显微镜是研究淀粉颗粒强有力的工具。扫描电镜很适合用于研究淀粉颗粒的表
面特征。样品必须包有一薄层能在真空下导电的物质,分辨率为0. 2 nm即可.顺粒薄
片的内部结构可由透射电镜在几千倍的放大倍数下观察到。French 已描述过了
一些基础性的研究。已用SEM研究了从供烤产品中分离出的小麦淀粉颗粒的表面变化
Gallant等(1992)用SEM来检测土豆淀粉颗粒被胰。一淀粉酶部分水解后的情况,
经过这一处理后呈现了颗粒晶型和非晶型的交替层,且颗粒表面附近有颗粒状物。Fan-
non和BeMiller (1992)研究了糊化淀粉浆的性质并用低沮电子显微镜观察了顾粒残余
物,他们认为孩拉结构差异与流变学特性休戚相关。Fannon等(1992)报道玉米、高
粱和粟米淀粉颗粒存在表面孔。也发现这种孔在小麦、黑麦、大麦淀粉大顺粒的赤道沟