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外型比较简单的圆柱形构件可用显微镜测量

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外型比较简单的圆柱形构件可用显微镜测量

  无损探伤分射线探伤、超声波探伤、磁力探伤及渗
透探伤等几种。

  1）射线探伤能直接显示物体内部的情况，基本上
能够确定缺陷有性质、大小和形状，且有照片可记录
，如X射线，Y射线以及电子加速器等，这里信介绍X
射线探伤法。

  X射线探伤法可分为透视照相、荧光观察、电离探
测等，透视照相法灵敏度高，检查对象如锅炉、气包
等外型比较简单的圆柱形构件，被透视件可进入 X光
透视室，其焊接厚度在25毫米以下，可用125千伏左
右X光机；厚度在40毫米以下，可用150千伏X光机
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