然而,在摩擦、磨损、咬合、疲劳破坏时,导致结构变化的
主要过程正是在这层中发生的,因此其性能基本上决定了材料的性状。
表层下的结构变化通常可用电子衍射法和电子显微术进行分
析,但要用化学法或者电解法作附加的逐层腐蚀,以制备薄箔
这种研究方法具有很大的缺点,因为在金属剥层过程
中,结构缺陷会重新分布,而且会产生很大的微应力。摩擦面的
附加加工会产生非单一的结果,而当结构沿研究对象深度变化梯
度很大时,它是完全做不到的。
元素成分和材料中各组份的分布性质可用传统的化学分析
法、光谱分析法、X射线谱分析法来精确测定,这些分析方法在
我们只指出,在X射线谱显微分析(电子探针)法制定之前,研究材料
中各种组分的分布尚无令人满意的显微侧定方法。在这方面,如
激光和离子显微探针等新颖仪器具有很大的价值,这些仪器能够
分析浓度为百万分之几而尺寸范围总共只有几个原子层的元素。