电子显微方法的分类与基本原理达到约0．5μm
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
电子显微方法的分类与基本原理达到约0．5μm
电子显微方法(electron microscopy)
们认识世界的能力有了质的飞跃，在微观世界里我们更加精确地了
解了物质的本质。但是由于可见光波长的限制，我们利用光学显微
镜的分辨极限只可达到约0．5 μm级别，再往下就因为光的衍射而
无法分辨了。为了提高显微镜的分辨率，人们很容易想到利用波长
更短的射线束来代替光束。这样，电子显微镜就出现了。
电子显微镜可以分为两大类：透射电子显微镜(transmission
electronmicroscope，TEM)和扫描电子显微镜(scanning electron
microscope，SEM)。透射电子显微镜是利用高能电子束来代替光
束，使之穿透薄层样品，根据样品不同部位电子穿透能力的不同或
穿过晶体时衍射图样的不同，经过电磁透镜放大后在荧光屏上成像
。现代的TEM技术使得人们认识微观世界的本领大大提高了，它可
以提供高达0．3 nm左右的分辨率，并可以工作在SEM模式或扫描透
射电子显微镜(STEM)模式。扫描电子显微镜是利用一束电子聚焦在
样品表面并作扫描，探测其激发出的二次电子，然后利用二次电子
来调制一个与扫描电子束作同步扫描的显示器，在显示器上显现出
样品的相应图像。目前SEM的分辨率已经可以达到几个纳米了。
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