通常情况下我们在使用传统的显微镜进行显微观察物体样
品标本时,则需要受到显微镜的景深的一个限制。
因此通常我们就需要将显微标本样品中放到载玻片上后再
盖上盖玻片使其压平标本在一个平面内,这样就可以进行
显微检测研究分析观察了。
同时由于使用显微镜显微样品标本的显微方法进行对显微
标本的结构具有一定的破坏性,因此对于这些样品标本的
细节部分的观察就会受到限制,这样就无法进行观察了。
而对于无损显微分析仪则是通过一个精密的位置进行控制
显微分析仪的机械结构构造进行上下移动载物台或是采集
样品,这样我们就可以通过不同的距离进行不同的移动方
式进行采集不同程度的图像,最后得到一个清晰的整体图
像。