一般常见的 TEM 加速电压约为 100-200keV)
HVEM(High-Voltage Electron Microscopy,它亦是 TEM 的一种,其加速电压可
达到 1.0MeV,而一般常见的 TEM 加速电压约为 100-200keV)来进行 PU
的形态观察,因为加速电压越高,越可减轻辐射损伤的影响。而本实
验所使用的 TEM 加速电压仅达 160keV,故须特别注意辐射伤害的影
响,以免被误导,所以为了避免辐射伤害的影响,不可在一定点停留
太久,且须要多取几个地方,以比较是否已有辐射伤害的发生,以下
所有 PU 的 TEM 图都是经由这样小心比较取得的