光学测量方法常识-由调焦而引起的仪器误差和采用望远镜的光学测量方法比较起来，衍射法最大优点在于没有由调焦而引起的仪器误差。此外，还应该指出，在接收器丝网平面内形成明亮的衍射图样的实像…...

采用白炽灯泡的衍射方向线测量法的测程是几十米反测时，单缝标志和光接收器对调位置。用衍射的全套仪器进行方向线测量时，采用移动光接收器的方法是更方便的。此时，直接根据干涉图样的中心轴偏…...

垂直地安置显微镜的照准轴)上的读数显微镜来进行测量当进行设备位置的检核测量时，可采用电接触法确定方向线上引张线的位置。这种方法的原理是，借助于引张线的闭合电路来测定显示设备的小闸刀同…...

大型工程建筑物的轴线放样设备零件安装辅助显微镜当将大型工程建筑物的轴线放样到实地上和将设备安装到设计位置上去时，广泛地采用着引张线法。此时，方向线的位置是利用在实地标定安装轴线的两…...

不锈钢制作金属电阻元件样品检测金相显微镜纯金属的电阻随温度的增加而增加，而半导体中的锗和导电的非金属碳，其电阻随温度的增加而减小。可以利用这些效应测量温度，而且已经利用这种原理制造…...

机械装置电学的测量多功能万工显制造厂商众所周知，温度表中的液体，如水银、酒精或甲苯等，都是装在与毛细管相连接的玻璃球或金属球中，由毛细管指示出其中液体的体积变化。玻璃球或金属球也可…...

机械原理、机电原理和电子原理的装置设计的显微镜由光能接收器分出的电信号的功率，一般用于控制作用是不够的。因此，跟踪装置电子环节的任务，是把电信号放大到所需要的量值，并把它变换成便于…...

使用测量方法和仪器,能够进行精密的长度和角度测量现在一般使用的测量方法和仪器，能够进行精密的长度和角度测量，但是不能精密地测出短线段(1—3米)上各点的相关位置。计量仪器和精密机械制造仪…...

特别适用于对可能包含多晶区的晶片分析电子显微镜较高能量的电子束可用以进行反射式电子衍射(RHEED)，这时采用小的掠射角，并利用向前散射的电子来造成衍射花样，而这种向前散射的电子的产生率不…...

光学影像测量仪器是一种不接触测量方法在不接触测量中，通常不用电动力变换器。这是因为这种变换器中的感应线圈存在着由横向运动引起的摩擦，从而影响对轴向方向的运动测量。对于不接触系统，除…...

在工业制品中有许多棒状制品和棒状零件轮廓测量显微镜利用样板光栅检测异常部位在工业制品中有许多棒状制品和棒状零件，迫切要求有能够迅速而简单地检测出棒状物体表面形状的异常、部分形状变形…...

通风压力是怎样测定-测量仪器技术简介在通风压力测定工作开始之前，先要认真研究矿井通风的工作情况、通风系统图、风流方向、拟定各水平的测点和测量路线、确定测站的标高。风压测定按水平进行。…...

读数时应把仪器摆平(刻度盘向上)-光学仪器厂商读数时应把仪器摆平(刻度盘向上)，因为仪器在厂内校准和检查时都是这样摆放的。当仪器竖直放置时，读数误差可达±0．3毫米汞柱。读数前，必须用手指…...

直接测量常用的测量方法-丝杠螺距和齿轮卤距的测量直接测量是常用的测量方法，简小方便。一般情况下其误差较小，应尽可能采用。由于测量对象的特点，实现直接测量有困难寸，可采用间接测量，如：…...

激光测量表面粗糙度的原理激光的特点是亮度高干涉显微镜是高精度光学仪器，要按国家标准进行定期检定。激光测微仪激光测量表面粗糙度具有速度快、效率高、数字化等优点，为机械加工中主动测量粗…...

高级粗糙度表面一般是经精磨、研磨或抛光干涉显微镜的测量误差干涉显微镜的测量误差也包括系统误差和偶然误差。干涉显微的误差分析是很复杂的，而且每台仪器的测量误差大小也不一样，同一台仪器…...

多孔介质的孔分布测量-颗粒体和多孔体表面积测量气体分子进入固体表面力场，由于相互作用而被吸附。被吸附的气体称为吸附质，吸附气体的固体称为吸附剂。吸附可分为二类：如涉及的仅是范德瓦尔力…...

测量值随颗粒堆积体的孔隙度分析图像显微镜流体透过法原则上可以应用于任何粒度的颗粒表面积测量(或平均粒度测量)，但是当粒度大干50微米时，通常用筛分析更方便和快速些。对于粘滞流范围，透过…...

多孔介质的渗透性可以由实验测定图像显微镜自从激光器出现之后，只有很少数的全息图用非激光光源制作。这是因为激光器比较便宜，又具有很多优点所致。如激光器得到的光具有高度的相干性；它能聚…...

如何分析复杂孔形的多孔体-材料分析显微镜膨胀计膨胀计不仅用来装样品，而且用来测定孔体积。它：是由一个测量孔体积用的玻璃毛细管和一个盛装样品的玻璃泡(样品室)所构成，两者用磨口相连接，再…...